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本文標題："掃描式穿隧顯微鏡是誰發(fā)明的？在哪一年"

1930 年代之后，在量子力學的基礎(chǔ)上，人們能夠掌握并描述原子之間的作用，例如量子穿隧效應和凡德瓦
爾力(van der Waals force)。科學家們意識到原來觀察微觀世界不只可以「遠觀」還可以「親近」
。我們可以透過探針和原子近距離接觸，藉由兩者間的作用瞭解表面的特性，這一批新誕生的儀器統(tǒng)稱為掃描式探
針顯微鏡(SPM, scanning probe microscopy)。第一個被發(fā)明的是 1981 年問世的掃描式穿隧顯微鏡(STM,
scanning tunneling microscopy) ，利用探針與原子之間穿隧電流的大小知曉表面的高低起伏 電子密度，、
溫度夠低的情況下甚至可以操控原子的位置，只是需要在真空環(huán)境下操作依舊使人困擾。發(fā)明掃描式穿隧顯微鏡的格爾德·賓林(Gerd
Binnig)于是又在 1986 年與奎特(Calvin Quate)、格伯(Christoph Gerber)
攜手發(fā)明了原子力顯微鏡(AFM, atomic force microscopy)，解決了電子顯微鏡要求樣品要導電和在真空環(huán)境才能量測的問題。因為原子力顯微鏡量測對象的主
要是凡德瓦爾力，存在于所有種類的原子之間，就這樣，樣品的材質(zhì)從導體、半導體拓展到了非導體，量測的環(huán)境可以在大氣中也可以在水中，從此材料科學和生物學可以研究的尺度大大的縮小了!